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        首頁>產品中心>冷熱沖擊試驗箱(TS系列)>三箱式沖擊試驗箱全不銹鋼>TSD-80F-3P三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

        三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

        型號:TSD-80F-3P

        瀏覽量:2531

        更新時間:2025-07-21

        價格:79000

        簡要描述:

        三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測
        該產品適用于電子元氣件的性能測試提供可靠性試驗、產品篩選試驗等,同時通過此裝備試驗,可提高產品的可靠性和進行產品的質量控制。

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        三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測
        品牌HT/皓天價格區間5萬-10萬
        產地類別國產應用領域能源,電子/電池,鋼鐵/金屬,航空航天,電氣

        三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

         

        三箱分別分為高溫箱,低溫箱,測試箱,采取*的自動切換方式,讓產品在測試區接受高溫和低溫的檢驗,為產品的技術改良提供有效依據。

        主要用于產品在瞬間低溫和瞬間高溫情況下,檢測產品的忍耐能力和耐環境破壞能力。冷熱沖擊試驗箱適用范圍:LED,電池,電子,電工,化工,汽車,數碼,電腦,塑膠,玻璃等產品和零配件。

         

        三箱式冷熱沖擊試驗箱價格的箱體結構:

        高低溫沖擊試驗箱全部功能采用計算機控制,系自主開發的軟件,有良好的操作界面,使用戶的操作和監測都更加簡單和直觀,保持功能可以使你正在運行的程序保持在目前的狀態下,可以臨時更改此程序段的數值,可以在屏幕上設置時間的參數,使制冷、加熱、提藍傳送切換,按設定值自動進行。
        冷箱、熱箱獨立控制,箱門互相獨立,擴大試驗箱的使用范圍(一箱三用)。
        產品保溫效果可以得到充分保證。
        試驗箱門與循環風機,提藍傳動等互鎖,保護操作者的**一旦打開箱門,循環風機和提藍傳動的電源會被自動切斷。在箱頂有標準引線孔管,方便用戶向箱內引入傳感器線,檢測電纜等類型引線。

        三箱式冷熱沖擊試驗箱電子芯片IC變化檢測

         

        性能
        指標

        溫度范圍

        A:-20℃~200℃ B:-40℃~200℃C:-60℃~200℃

         

        溫度波動

        高溫室及低溫室均±2℃

         

        樣品區溫度波動

        ±0.5℃(恒溫時)

         

        樣品區承重

        30kg

        30kg

        50kg

        60kg

        溫濕度運行控制系統

        控制器

        進口LED數顯(P·I·D +S·S·R)微電腦集成控制器

         

        精度范圍

        設定精度:溫度0.1℃,指示精度:溫度0.1℃,解析度:0.1℃

         

        制冷系統

        進口德國谷輪半封閉水冷式壓縮機組/原裝法國“泰康”/全封閉風冷復迭壓縮制冷方式

         

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